UNE-EN IEC 60749-28:2022
半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 28: 静電気放電 (ESD) 感度試験 帯電デバイス モデル (CDM) デバイス レベル

規格番号

UNE-EN IEC 60749-28:2022

制定年

2022

出版団体

ES-UNE

最新版

UNE-EN IEC 60749-28:2022

UNE-EN IEC 60749-28:2022 発売履歴

• 2022 UNE-EN IEC 60749-28:2022 半導体デバイスの機械的および気候的試験方法 パート 28: 静電気放電 (ESD) 感度試験 帯電デバイス モデル (CDM) デバイス レベル