NF EN 62374-1:2011
半導体デバイス - パート 1: 金属間化合物層の過渡絶縁破壊 (TDDB) テスト

規格番号

NF EN 62374-1:2011

制定年

2011

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF EN 62374-1:2011

NF EN 62374-1:2011 発売履歴

• 2011 NF EN 62374-1:2011 半導体デバイス - パート 1: 金属間化合物層の過渡絶縁破壊 (TDDB) テスト