BS IEC 62951-8:2023
半導体デバイスの柔軟性と伸縮性 半導体デバイスの伸縮性、柔軟性、安定性のフレキシブル抵抗メモリ試験方法
- 規格番号
- BS IEC 62951-8:2023
- 制定年
- 2023
- 出版団体
- British Standards Institution (BSI)
- 最新版
- BS IEC 62951-8:2023
BS IEC 62951-8:2023 発売履歴
- 2023 BS IEC 62951-8:2023 半導体デバイスの柔軟性と伸縮性 半導体デバイスの伸縮性、柔軟性、安定性のフレキシブル抵抗メモリ試験方法
