IEEE/ANSI N42.45-2021
線コンピュータ断層撮影 (CT) セキュリティ スクリーニング システムの画質を評価するための米国国家規格

規格番号

IEEE/ANSI N42.45-2021

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

最新版

IEEE/ANSI N42.45-2021

IEEE/ANSI N42.45-2021 発売履歴

• 1970 IEEE/ANSI N42.45-2021 線コンピュータ断層撮影 (CT) セキュリティ スクリーニング システムの画質を評価するための米国国家規格
• 2011 IEEE/ANSI N42.45-2011 線コンピュータ断層撮影 (CT) 安全シールド システムの画質評価に関する米国国家規格