FprEN IEC 60947-9-2:2021
低電圧開閉装置および制御装置 パート 9-2: アクティブアーク障害軽減システム 光学ベースの内部アーク検出および軽減装置
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FprEN IEC 60947-9-2:2021
規格番号
FprEN IEC 60947-9-2:2021
制定年
1970
出版団体
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
最新版
FprEN IEC 60947-9-2:2021
範囲
この文書では、内部アーク故障制御装置 (以下 IACD と呼びます) について説明します。 これらの装置は次のことを目的としています。 - 内部アークの光学効果を (少なくとも) 処理することにより、低電圧開閉装置および制御装置アセンブリの内部アーク故障を検出する- 故障、および - 内部アーク故障の影響を最小限に抑えるために、緩和装置 (外部または組み合わせ) を動作させます (図 1 を参照)。 この文書の目的上、「光」または「光学」という用語は可視スペクトル以上のものを含みます。 それらは、例えば、赤外線または紫外線の電磁放射もカバーする場合があります (付録 D を参照)。 複合型 IACD の場合、この文書は、内部アーク障害軽減装置の関連製品規格 (IEC TS 63107:2020 による IARD) に加えて考慮されます。 関連する製品規格への準拠は必須であり、この文書だけをテストすることによって主張することはできません。 注 1 低電圧開閉装置および制御装置アセンブリは、通常、IEC 61439 シリーズによって記述されています。 [図 1] したがって、この文書では以下について説明します。 - 内部アーク故障制御装置 (スタンドアロン、多機能、または複合)。 - 内部アーク故障の光学的影響を検出するために使用される 1 つまたは複数の関連センサー。 - 障害を確認するために、別の物理的影響を感知するセンサー。 - 関連または組み合わせた緩和装置。 IACD は、切断装置や開閉装置の動作に伴う通常のアーク放電を含め、低電圧開閉装置および制御装置の通常動作 (つまり、内部アーク故障がない状態) でトリガーすることを目的としていません。 この文書では、以下の方法のみを取り上げます。 - 内部アーク故障によって引き起こされる光の光学的検出。 - 線電流測定による内部アーク故障のオプションの確認。 LV アセンブリでは、さまざまな導電性材料 (鋼、銅、アルミニウムなど) を使用できます。 それにもかかわらず、この文書で指定されたテストは、アーク検出にとって最も重要かつ困難な条件を表すものとみなされ、導電性材料のすべての組み合わせをカバーします。 注 2 他の材料 (スチール、アルミニウムなど) と比較して、銅は光放射エネルギーが低くなります。 IACD が取り付けられるアセンブリの定格電圧は 1,000 V AC を超えません。 このような装置は、熟練者のみが操作および保守できるように設計されています。 この文書では以下については説明しません。 - DC 内部アーク障害の検出と制御。 - 過電流リレー; ——IEC 62606 で定義された AFDD (アーク障害検出デバイス)。 - アセンブリ内への設置に関するガイダンス。 注 3 IACD のアセンブリへの統合については、IEC TS 63107 に記載されています。 - 爆発性雰囲気内での設置および操作に必要な追加の措置を講じて使用してください。 これらは IEC 60079 シリーズの文書に記載されています。 - 組み込みソフトウェアおよびファームウェアの設計ルールの要件。 この件に関しては、製造業者は追加の安全対策を講じる責任があります。 注 4 IEC TR 63201 には、ソフトウェアのエラーを防止するファームウェアおよび組み込みソフトウェアの開発に関する規則が記載されています。 - サイバーセキュリティの側面。 この件に関しては、製造業者は追加の安全対策を講じる責任があります。 注 5 IEC TS 63208 を参照してください。 - モバイル アプリケーション。 注 6 内部アーク障害軽減装置に言及する場合でも、この文書は他の関連製品規格 (IEC 60947-2 または IEC 60947-9-1 など) に優先するものではありません。 注 7 DC アーク故障現象は検討中です。 DC アーク現象と必要なセンシングを理解するには、さらなる調査が必要です。
FprEN IEC 60947-9-2:2021 発売履歴
1970
FprEN IEC 60947-9-2:2021
低電圧開閉装置および制御装置 パート 9-2: アクティブアーク障害軽減システム 光学ベースの内部アーク検出および軽減装置
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