UNE-EN IEC 60749-15:2020
半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法 第15部：スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性

規格番号

UNE-EN IEC 60749-15:2020

制定年

2020

出版団体

ES-UNE

最新版

UNE-EN IEC 60749-15:2020

UNE-EN IEC 60749-15:2020 発売履歴

• 2020 UNE-EN IEC 60749-15:2020 半導体デバイスの機械的及び気候的試験方法 第15部：スルーホール実装デバイスのはんだ付け温度耐性