NF EN 60749-32:2003
半導体デバイス - 機械的および気候試験方法 - パート 32: プラスチックパッケージのデバイスの可燃性 (外部要因による発火の場合)
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NF EN 60749-32:2003
規格番号
NF EN 60749-32:2003
制定年
2003
出版団体
Association Francaise de Normalisation
最新版
NF EN 60749-32:2003
NF EN 60749-32:2003 発売履歴
2003
NF EN 60749-32:2003
半導体デバイス - 機械的および気候試験方法 - パート 32: プラスチックパッケージのデバイスの可燃性 (外部要因による発火の場合)
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