IEC TR 63133:2017
半導体デバイス スキャンベースの半導体デバイスの劣化レベル推定 (バージョン 1.0)

規格番号

IEC TR 63133:2017

制定年

2017

出版団体

IEC - International Electrotechnical Commission

最新版

IEC TR 63133:2017

範囲

このテクニカルレポートは、半導体の劣化を監視し、劣化レベルを特徴づけ、システムの信頼性を向上させるために使用できる性能予測記憶素子@の設計手法を規定します。

IEC TR 63133:2017 発売履歴

• 2017 IEC TR 63133:2017 半導体デバイス スキャンベースの半導体デバイスの劣化レベル推定 (バージョン 1.0)