GJB 762.2-1989
半導体デバイスの放射線硬化試験方法 ガンマ線総線量照射試験 (英語版)
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GJB 762.2-1989
規格番号
GJB 762.2-1989
言語
中国語版,
英語で利用可能
制定年
1989
出版団体
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department
状態
入れ替わる
2016-03
に置き換えられる
GJB 762.2-1989(XG1-2015)
最新版
GJB 762.2-1989(XG1-2015)
GJB 762.2-1989 発売履歴
0000
GJB 762.2-1989(XG1-2015)
1989
GJB 762.2-1989
半導体デバイスの放射線硬化試験方法 ガンマ線総線量照射試験
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