IEC 62951-9:2022
半導体デバイス フレキシブルかつ伸縮可能な半導体デバイス 第9部：1トランジスタ1抵抗（1T1R）抵抗メモリユニットの性能試験方法
- 規格番号
- IEC 62951-9:2022
- 制定年
- 2022
- 出版団体
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- 最新版
- IEC 62951-9:2022
IEC 62951-9:2022 発売履歴
- 2022 IEC 62951-9:2022 半導体デバイス フレキシブルかつ伸縮可能な半導体デバイス 第9部：1トランジスタ1抵抗（1T1R）抵抗メモリユニットの性能試験方法
