IEC 60068-2-20:1968
電子部品および電子機器の基本的な環境試験手順 - 第 2 部: 試験 - 試験 T: はんだ付け
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IEC 60068-2-20:1968
規格番号
IEC 60068-2-20:1968
制定年
1970
出版団体
SCC
状態
入れ替わる
2008-07
に置き換えられる
IEC 60068-2-20:1979
最新版
IEC 60068-2-20:2021 RLV
交換する
1968-01-01
IEC 60068-2-20:1968 発売履歴
0000
IEC 60068-2-20:2021 RLV
2008
IEC 60068-2-20:2008
環境試験 第2部:試験 試験T:リード線付機器のはんだ付け性及びはんだ耐熱性の試験方法
1970
IEC 60068-2-20:1979/AMD2:1987
修正 2 - 基本的な環境試験手順 - パート 2-20: 試験 - 試験 T: はんだ付け
1970
IEC 60068-2-20:1979/AMD1:1986
修正 1 - 基本的な環境試験手順 - パート 2: 試験 - 試験 T: はんだ付け
1979
IEC 60068-2-20:1979
環境試験パート2-20:試験試験T:はんだ付け
1970
IEC 60068-2-20:1968
電子部品および電子機器の基本的な環境試験手順 - 第 2 部: 試験 - 試験 T: はんだ付け
1970
IEC 60068-2-20:1960
電子部品および電子機器の基本的な環境試験手順 - 第 2 部: 試験 - 試験 T: はんだ付け
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