UNE-EN 60749-28:2017
半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 28: 静電気放電 (ESD) 感度試験 - デバイス帯電モデル (CDM) - デバイス レベル

規格番号

UNE-EN 60749-28:2017

制定年

2017

出版団体

ES-UNE

最新版

UNE-EN 60749-28:2017

UNE-EN 60749-28:2017 発売履歴

• 2017 UNE-EN 60749-28:2017 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 28: 静電気放電 (ESD) 感度試験 - デバイス帯電モデル (CDM) - デバイス レベル