DIN EN 60749-44:2017-04
半導体デバイスの機械的および気候試験方法 第44部：半導体デバイスに対する中性子線照射のシングルイベント効果（SEE）の試験方法
- 規格番号
- DIN EN 60749-44:2017-04
- 制定年
- 2017
- 出版団体
- German Institute for Standardization
- 最新版
- DIN EN 60749-44:2017-04
DIN EN 60749-44:2017-04 発売履歴
- 2017 DIN EN 60749-44:2017-04 半導体デバイスの機械的および気候試験方法 第44部：半導体デバイスに対する中性子線照射のシングルイベント効果（SEE）の試験方法
- 2017 DIN EN 60749-44:2017 半導体デバイス. 機械的および気候的試験方法. パート 44: 半導体デバイスの中性子線照射のシングルイベント効果 (SEE) の試験方法 (IEC 60749-44-2016)、ドイツ語版 EN 60749-44-2016
- 1970 DIN EN 60749-44 E:2014-08 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - 第 44 部: 半導体デバイスの中性子線照射シングルイベント効果 (SEE) 試験方法
- 0000 DIN EN 60749-44:2014
