ANSI/IEEE Std 759-1984
半導体X線分光計のIEEE標準試験手順

規格番号

ANSI/IEEE Std 759-1984

制定年

1984

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

最新版

ANSI/IEEE Std 759-1984

範囲

半導体放射線検出器アセンブリと波高分析器/コンピュータに接続された信号処理電子機器で構成される X 線分光計のテスト手順が示されており、エネルギー分解能、スペクトル歪み、波高直線性、計数率の影響、過負荷の影響、パルス波高の影響高さの安定性と効率がカバーされています波高分析装置とパルス波高分析装置のテスト手順...

ANSI/IEEE Std 759-1984 発売履歴

• 1984 ANSI/IEEE Std 759-1984 半導体X線分光計のIEEE標準試験手順