SJ/T 11705-2018
マイクロ電子デバイスパッケージの接地および電源インピーダンス試験方法 (英語版)

規格番号

SJ/T 11705-2018

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2018

出版団体

工业和信息化部

最新版

SJ/T 11705-2018

SJ/T 11705-2018 発売履歴

• 2018 SJ/T 11705-2018 マイクロ電子デバイスパッケージの接地および電源インピーダンス試験方法