T/CIE 126-2021
磁気ランダムアクセスメモリチップの試験方法 (英語版)

規格番号

T/CIE 126-2021

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2021

出版団体

Group Standards of the People's Republic of China

最新版

T/CIE 126-2021

範囲

この規格は、磁気ランダム アクセス メモリ (MRAM) チップのテスト方法に関する用語、テスト原理、テスト環境、テスト機器、テスト手順などを規定しています。 この規格は、磁気ランダム アクセス メモリ チップのテストと、磁気ランダム アクセス メモリ チップの主要な性能 (信頼性や電気的パラメータなど) の検証に適用されます。

T/CIE 126-2021 発売履歴

• 2021 T/CIE 126-2021 磁気ランダムアクセスメモリチップの試験方法