IEEE Std 1641.1a-2018
IEEE IEEE Std 1641(TM) 使用ガイドライン、信号およびテスト定義に関する IEEE 規格修正 1: 自動テスト マークアップ言語を使用してプラットフォーム上で再利用可能なテスト信号フレームワークを生成するためのガイダンスを追加

規格番号
IEEE Std 1641.1a-2018
制定年
2018
出版団体
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
最新版
IEEE Std 1641.1a-2018
範囲
ガイドを修正して、プラットフォーム ATML を利用する上で使用する再利用可能な TSF を作成するためのガイドラインを追加し、ガイドラインへの準拠を示すサンプル TSF を作成します。 このガイドでは、信号定義とテスト要件が IEEE Std 1641-2010 に準拠して実装される方法について説明します。 また、背景情報、チュートリアルのサポート、信号定義とテスト要件の例を提供します...

IEEE Std 1641.1a-2018 発売履歴

  • 2018 IEEE Std 1641.1a-2018 IEEE IEEE Std 1641(TM) 使用ガイドライン、信号およびテスト定義に関する IEEE 規格修正 1: 自動テスト マークアップ言語を使用してプラットフォーム上で再利用可能なテスト信号フレームワークを生成するためのガイダンスを追加
IEEE IEEE Std 1641(TM) 使用ガイドライン、信号およびテスト定義に関する IEEE 規格修正 1: 自動テスト マークアップ言語を使用してプラットフォーム上で再利用可能なテスト信号フレームワークを生成するためのガイダンスを追加



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