EN 61587-3:2006
電子機器の機械的構造の試験 IEC 60917 および IEC 60297 パート 3: キャビネット ラックおよびサブラックの電磁シールド性能の試験

規格番号
EN 61587-3:2006
制定年
2006
出版団体
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization
状態
に置き換えられる
EN 61587-3:2013
最新版
EN 61587-3:2013
範囲
範囲と目的 IEC 61587 のこの部分では、30 MHz ～ 2 000 MHz の周波数範囲での電磁シールド性能に関する空のキャビネットおよびサブラックのテストを指定します。 IEC 60297 および IEC 60917 シリーズのキャビネットおよびサブラックのシールド性能レベルの定義には、規定の減衰値が選択されます。 シールド性能レベルは、産業用途の典型的な分野の要件を考慮して選択されます。 これらは電磁適合性を達成するための措置をサポートしますが、装備されたエンクロージャの適合性の最終テストに代わることはできません。 この規格の目的は、さまざまな用途におけるさまざまなレベルの性能の必要性を考慮して、キャビネットおよびサブラック@の物理的完全性と環境性能を保証することです。 これは、ユーザーが特定のニーズを満たす製品を選択する際に一定の自信を与えることを目的としています。 この規格の全部または一部は、IEC 60297 および IEC 60917 に従ってキャビネットやサブラックなどの空のエンクロージャにのみ適用され、電子機器が設置されているエンクロージャには適用されません。 この規格は IEC 61000-5-7 と密接な関係で開発されましたが、サブラックとキャビネット、および選択された周波数範囲での性能レベルの決定に特に焦点を当てています。

EN 61587-3:2006 発売履歴

  • 2013 EN 61587-3:2013 電子機器の機械構造の試験 IEC 60917 および IEC 60297 パート 3: キャビネットおよびサブラックの電磁シールド性能試験
  • 2006 EN 61587-3:2006 電子機器の機械的構造の試験 IEC 60917 および IEC 60297 パート 3: キャビネット ラックおよびサブラックの電磁シールド性能の試験


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