NF EN 62374:2008
半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊試験 (TDDB)
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NF EN 62374:2008
規格番号
NF EN 62374:2008
制定年
2008
出版団体
Association Francaise de Normalisation
最新版
NF EN 62374:2008
NF EN 62374:2008 発売履歴
2008
NF EN 62374:2008
半導体デバイス - ゲート絶縁膜の時間依存性絶縁破壊試験 (TDDB)
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