T/ZAQ 10113-2022
半導体デバイス断続寿命試験装置 (英語版)

規格番号
T/ZAQ 10113-2022
言語
中国語版, 英語で利用可能
制定年
2022
出版団体
Group Standards of the People's Republic of China
最新版
T/ZAQ 10113-2022
範囲
この文書は、半導体デバイス断続寿命試験装置（以下、寿命試験装置という）の用語と定義、基本パラメータ、技術要件、試験方法、検査規則、標識、使用方法、梱包、輸送および保管に関する指示を規定します。

T/ZAQ 10113-2022 発売履歴



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