NF EN IEC 60749-15:2020
半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - 第 15 部: スルーホールデバイスのはんだ付け温度許容差

規格番号

NF EN IEC 60749-15:2020

制定年

2020

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF EN IEC 60749-15:2020

NF EN IEC 60749-15:2020 発売履歴

• 2020 NF EN IEC 60749-15:2020 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - 第 15 部: スルーホールデバイスのはんだ付け温度許容差