ISO 20263:2017
マイクロビーム解析 - 分析透過型電子顕微鏡 - 層状材料の断面画像における界面位置の決定方法

規格番号

ISO 20263:2017

制定年

2017

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

最新版

ISO 20263:2017

範囲

この文書は、多層材料の断面画像に記録された 2 つの異なる層状材料間の平均界面位置を決定するための手順を指定します。 マルチスライス シミュレーション (MSS) 方法を通じて予想される多層材料のシミュレートされた界面を決定することを目的としたものではありません。 この文書は、透過型電子顕微鏡 (TEM) または走査透過型電子顕微鏡 (STEM) を使用して記録された多層材料の断面画像およびエネルギー分散型 X 線を使用した断面元素マッピング画像に適用されます。 線分光計 (EDS) または電子エネルギー損失分光計 (EELS) です。 デジタルカメラ内蔵のイメージセンサーやパソコンにセットされたデジタルメモリー、イメージングプレートに記録されたデジタル化画像、写真フィルムに記録されたアナログ画像をイメージスキャナーで変換したデジタル化画像にも適用されます。

ISO 20263:2017 発売履歴

• 2017 ISO 20263:2017 マイクロビーム解析 - 分析透過型電子顕微鏡 - 層状材料の断面画像における界面位置の決定方法