SJ/T 11586-2016
半導体デバイスへの10KeVの低エネルギーX線総線量照射の試験方法 (英語版)

規格番号

SJ/T 11586-2016

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2016

出版団体

工业和信息化部

最新版

SJ/T 11586-2016

SJ/T 11586-2016 発売履歴

• 2016 SJ/T 11586-2016 半導体デバイスへの10KeVの低エネルギーX線総線量照射の試験方法