UNE-EN 2591-218:2002
航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 218: 温度と電流サイクルによる端子ラグおよびシリーズ コネクタの劣化

規格番号
UNE-EN 2591-218:2002
制定年
2002
出版団体
ES-UNE
最新版
UNE-EN 2591-218:2002

UNE-EN 2591-218:2002 発売履歴

  • 2002 UNE-EN 2591-218:2002 航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 218: 温度と電流サイクルによる端子ラグおよびシリーズ コネクタの劣化
航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 218: 温度と電流サイクルによる端子ラグおよびシリーズ コネクタの劣化



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