UNE-EN 2591-218:2002
航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 218: 温度と電流サイクルによる端子ラグおよびシリーズ コネクタの劣化
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UNE-EN 2591-218:2002
規格番号
UNE-EN 2591-218:2002
制定年
2002
出版団体
ES-UNE
最新版
UNE-EN 2591-218:2002
UNE-EN 2591-218:2002 発売履歴
2002
UNE-EN 2591-218:2002
航空宇宙シリーズ電気および光学接続コンポーネントの試験方法パート 218: 温度と電流サイクルによる端子ラグおよびシリーズ コネクタの劣化
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