T/CSTM 00162-2020
透過型電子顕微鏡の校正方法 (英語版)
- 規格番号
- T/CSTM 00162-2020
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2020
- 出版団体
- Group Standards of the People's Republic of China
- 最新版
- T/CSTM 00162-2020
- 範囲
- このセクションでは、透過型電子顕微鏡校正法の用語と定義、概要、計測特性、校正条件、校正項目と校正方法、測定結果の不確かさの評価、校正結果の表現、再校正の時間間隔などを規定します。 この標準器は、透過型電子顕微鏡の倍率、サンプルの汚染率、サンプルのドリフト率の校正に適しています。
T/CSTM 00162-2020 発売履歴
- 2020 T/CSTM 00162-2020 透過型電子顕微鏡の校正方法
