ISO 24497-1:2020 非破壊検査、金属磁気メモリ、パート 1: 語彙および一般要件規格と仕様

範囲: この文書は、金属磁気メモリ (MMM) 技術による非破壊検査 (NDT) の用語と定義、および磁気検査方法のこの技術を適用するための一般要件を指定します。この文書で指定されている用語は、金属磁気メモリ技術を使用した非破壊検査に関するあらゆる種類の文書および文献に適用するために必須です。この NDT 技術には次の目的があります。 - 強磁性体の磁気機械状態の不均一性の決定、欠陥集中および金属微細構造の不均一性の境界の検出。 - さらなる微細構造分析および/または非破壊検査および評価のための、漂遊磁場異常のある場所の特定。 - 検査対象物の疲労損傷の早期診断とその構造的寿命の評価。 — 新しい検査対象物と使用済みの検査対象物を磁気の不均一性によって迅速に分類し、さらなる検査を行うことができます。 — 最も可能性の高い欠陥位置を迅速に検出することにより、金属磁気メモリ検査を他の NDT 方法または技術 (超音波検査、X 線など) と組み合わせることにより、非破壊検査の効率が向上します。 - さまざまなタイプの溶接継手とその実施形態（接触溶接およびスポット溶接を含む）の品質管理。このアプリケーションの詳細については、ISO 24497-2 を参照してください。

ISO 24497-1:2020 規範的参照