ISO 7530-8:1992
ニッケル合金フレーム原子吸光分析その8：シリコン含有量の測定

規格番号

ISO 7530-8:1992

制定年

1992

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

最新版

ISO 7530-8:1992

範囲

シリコン含有量は、0.2 % (m/m) ～ 1 % (m/m) の範囲で決定できます。 原理は、試験部分を酸に溶解し、原子吸光分析装置の亜酸化窒素-アセチレン炎に試験溶液を吸引し、シリコンのスペクトルから共鳴線エネルギーの吸光度を測定し、校正溶液の吸光度と比較することです。 251.6nmで。

ISO 7530-8:1992 発売履歴

• 1992 ISO 7530-8:1992 ニッケル合金フレーム原子吸光分析その8：シリコン含有量の測定