ISO 17862:2013
表面化学分析 - 二次イオン質量分析 - 単一イオン計数飛行時間型質量分析装置における強度スケーリングの直線性

規格番号

ISO 17862:2013

制定年

2013

出版団体

International Organization for Standardization (ISO)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

ISO 17862:2022

最新版

ISO 17862:2022

範囲

この国際規格は、ポリ(テトラフルオロエチレン) (PTFE)。 また、デッドタイム中に到着する二次イオンによって引き起こされる、マイクロチャネルプレート (MCP) またはシンチレーターと光電子増倍管、その後の時間デジタル変換器 (TDC) 検出システムからの強度損失から生じる強度の非線形性を補正する方法も含まれています。 この補正により、95 % の直線性の強度範囲が最大 50 倍以上増加するため、関連する補正式が有効であることが示されている分光計に対して、より高い最大計数率を使用できるようになります。 この国際規格は、デッドタイム補正がすでに行われているものの、さらなる増加が可能であるか不可能である機器の妥当性を確認するためにも使用できます。

ISO 17862:2013 発売履歴

• 2022 ISO 17862:2022 表面化学分析、二次イオン質量分析、単一イオン計数飛行時間型質量分析装置における強度スケーリングの直線性。
• 2013 ISO 17862:2013 表面化学分析 - 二次イオン質量分析 - 単一イオン計数飛行時間型質量分析装置における強度スケーリングの直線性