SJ/T 10741-2000
半導体集積回路CMOS回路の検査方法の基本原理 (英語版)
- 規格番号
- SJ/T 10741-2000
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2000
- 出版団体
- Professional Standard - Electron
- 状態
- 2011-08
- 最新版
- SJ/T 10741-2000
- 範囲
- この規格は、半導体集積回路CMOS回路の電気的特性試験方法の基本原則を定めたものです。 半導体集積回路のCMOS回路の電気的特性を試験するのに適した規格です。
SJ/T 10741-2000 発売履歴
- 2000 SJ/T 10741-2000 半導体集積回路CMOS回路の検査方法の基本原理
- 1970 SJ/T 10741-1996 半導体集積回路CMOS回路の検査方法の基本原理
