SJ/T 10745-1996
半導体集積回路の機械的および気候的試験方法 (英語版)

規格番号

SJ/T 10745-1996

言語

中国語版, 英語で利用可能

出版団体

Professional Standard - Electron

状態

撤回 2010-02

最新版

SJ/T 10745-1996

SJ/T 10745-1996 発売履歴

• 1970 SJ/T 10745-1996 半導体集積回路の機械的および気候的試験方法