SJ 2215.8-1982
半導体光カプラの出力飽和電圧降下試験方法 (英語版)

規格番号

SJ 2215.8-1982

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1982

出版団体

Professional Standard - Electron

状態

入れ替わる 2015-10

に置き換えられる

SJ/T 2215-2015

最新版

SJ/T 2215-2015

SJ 2215.8-1982 発売履歴

• 2015 SJ/T 2215-2015 半導体フォトカプラの試験方法
• 1982 SJ 2215.8-1982 半導体光カプラの出力飽和電圧降下試験方法

SJ 2215.8-1982 半導体光カプラの出力飽和電圧降下試験方法 は SJ/T 2215-2015 半導体フォトカプラの試験方法 に変更されます。