SJ 2137-1982
シリコンツェナーダイオードのテスト方法 一般原則 (英語版)

規格番号

SJ 2137-1982

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1982

出版団体

Professional Standard - Electron

状態

撤回 2010-02

最新版

SJ 2137-1982

SJ 2137-1982 発売履歴

• 1982 SJ 2137-1982 シリコンツェナーダイオードのテスト方法 一般原則