SJ 2709-1986
プリント基板アセンブリの温度試験方法 (英語版)

規格番号

SJ 2709-1986

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1986

出版団体

Professional Standard - Electron

状態

入れ替わる 2017-01

に置き換えられる

SJ/T 2709-2016

最新版

SJ/T 2709-2016

範囲

この規格は、自然冷却条件下での電子機器のプリント基板アセンブリの周囲温度、温度場、および取り付けられたコンポーネントおよびデバイスの表面温度の試験方法を指定します。

SJ 2709-1986 発売履歴

• 2016 SJ/T 2709-2016 プリント基板アセンブリの温度試験方法
• 1986 SJ 2709-1986 プリント基板アセンブリの温度試験方法

SJ 2709-1986 プリント基板アセンブリの温度試験方法 は SJ/T 2709-2016 プリント基板アセンブリの温度試験方法 に変更されます。