SJ/Z 2976-1988
電子デバイス用はんだ材料の物性試験方法、はんだ付けおよびはんだ除去温度の決定 (英語版)

規格番号
SJ/Z 2976-1988
言語
中国語版, 英語で利用可能
制定年
1988
出版団体
Professional Standard - Electron
状態
 2010-02
最新版
SJ/Z 2976-1988
範囲
このガイダンス文書は、銀及びその合金はんだを用いて電子機器をはんだ付けする際の、はんだ接合部のはんだ吸い取り温度の測定方法を規定したものであり、はんだ吸い取り温度の検出に適している。

SJ/Z 2976-1988 発売履歴

  • 1988 SJ/Z 2976-1988 電子デバイス用はんだ材料の物性試験方法、はんだ付けおよびはんだ除去温度の決定
電子デバイス用はんだ材料の物性試験方法、はんだ付けおよびはんだ除去温度の決定



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