IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005
IEC 62526 Edition 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) の拡張

規格番号

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005

制定年

2007

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

最新版

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005

範囲

標準テスト インターフェイス言語 (STIL) は、デジタル テスト生成ツールとテスト機器の間のインターフェイスを提供します。 テスト インターフェイス言語 (この標準に含まれる) の拡張機能は、(1) 設計環境での言語の使用を容易にする、(2) と定義されています。 ) 再利用可能なパターンを持つサブデザインを含む大規模なデザインでの言語の使用を容易にします。

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005 発売履歴

• 2007 IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005 IEC 62526 Edition 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): 半導体設計環境向けの標準テスト インターフェイス言語 (STIL) の拡張