SJ 1267-1977
半導体デバイス用ヒートシンクの自然空冷条件における熱抵抗試験方法 (英語版)
- 規格番号
- SJ 1267-1977
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 1978
- 出版団体
- Professional Standard - Electron
- 状態
- 2010-02
- 最新版
- SJ 1267-1977
SJ 1267-1977 発売履歴
- 1978 SJ 1267-1977 半導体デバイス用ヒートシンクの自然空冷条件における熱抵抗試験方法
