IEC 60947-5-4:2002+AMD1:2019 CSV
低圧開閉装置及び制御装置 第5-4部 制御回路装置及び開閉素子の低電力接点の性能評価方法 特殊試験

規格番号

IEC 60947-5-4:2002+AMD1:2019 CSV

制定年

2019

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 60947-5-4:2002+AMD1:2019 CSV

IEC 60947-5-4:2002+AMD1:2019 CSV 発売履歴

• 2019 IEC 60947-5-4:2002/AMD1:2019 修正 1. 低圧開閉装置および制御装置 第 5-4 部：制御回路装置および開閉素子 低電力接点の性能評価方法 特殊試験
• 2002 IEC 60947-5-4:2002 低圧開閉装置および制御装置 第 5-4 部：制御回路装置およびスイッチング素子 低エネルギー接点の性能評価方法 特殊試験
• 1996 IEC 60947-5-4:1996 Appareilge A Basse Tension - パート 5: Appareils Et Elements De Commutation Pour Circuits De Commande - セクション 4: Methode D?Evaluation Des Performances Des Contacts A Basse Energie - Essais Speciaux (Edition 1.0; Corrigendum 1:2000)