JJF 1092-2002
光断面顕微鏡校正仕様書 (英語版)
- 規格番号
- JJF 1092-2002
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2002
- 出版団体
- National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China
- 最新版
- JJF 1092-2002
- 範囲
- この仕様は、光切断顕微鏡の校正に適用されます。
JJF 1092-2002 発売履歴
- 2002 JJF 1092-2002 光断面顕微鏡校正仕様書
