UNE-EN 60749-11:2003
半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第11回 急激な温度変化 二流体浴法

規格番号

UNE-EN 60749-11:2003

制定年

2003

出版団体

AENOR

最新版

UNE-EN 60749-11:2003

UNE-EN 60749-11:2003 発売履歴

• 2003 UNE-EN 60749-11:2003 半導体デバイスの機械的・気候的試験方法 第11回 急激な温度変化 二流体浴法