SJ 2215.2-1982
半導体フォトカプラ(ダイオード)の順電圧降下試験方法 (英語版)
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SJ 2215.2-1982
規格番号
SJ 2215.2-1982
言語
中国語版,
英語で利用可能
制定年
1982
出版団体
Professional Standard - Electron
状態
入れ替わる
2015-10
に置き換えられる
SJ/T 2215-2015
最新版
SJ/T 2215-2015
SJ 2215.2-1982 発売履歴
2015
SJ/T 2215-2015
半導体フォトカプラの試験方法
1982
SJ 2215.2-1982
半導体フォトカプラ(ダイオード)の順電圧降下試験方法
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