JB/T 4009-1999
接触超音波縦波直接探傷法 (英語版)
- 規格番号
- JB/T 4009-1999
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 1999
- 出版団体
- Professional Standard - Machinery
- 状態
- 2021-01
- に置き換えられる
- JB/T 4009-2020
- 最新版
- JB/T 4009-2020
- 範囲
- この規格は、超音波プローブを検査対象物に直接接触させて超音波縦波直接探傷を行う際に遵守すべき一般的な規則を定めたものです。 縦波直接探傷に接触式超音波パルスエコー法を使用する場合、通常、単一の圧力チップを使用したプローブを使用して高周波超音波パルスを放射します。 検査対象の材料に適切なカップリング剤を垂直に注入します。 物質の内部に反射体（超音波を反射する欠陥やその他の物体を含む）がある場合、超音波エネルギーはそこから反射されてプローブで受信され、電子機器で増幅された後、電気パルス信号に変換されます。 、ライトスクリーンにパルス波形が表示されます。 超音波エコーの有無、エコーの振幅、エコーの発生範囲により、反射体の有無、深さ、位置、大きさを判断できます。 逆波弱化の振幅に応じて、欠陥や材料の減衰も判断できます。
JB/T 4009-1999 発売履歴
- 2020 JB/T 4009-2020 非破壊検査 接触超音波縦波パルスエコー検出および断線評価方法
- 1999 JB/T 4009-1999 接触超音波縦波直接探傷法
