KS C IEC 62047-18-2016
半導体デバイス - 微小電気機械デバイス - 第 18 部: 薄膜材料の曲げ試験方法

規格番号

KS C IEC 62047-18-2016

制定年

2016

出版団体

KR-KS

状態

入れ替わる 2021-01

に置き換えられる

KS C IEC 62047-18-2021

最新版

KS C IEC 62047-18-2021

KS C IEC 62047-18-2016 発売履歴

• 2021 KS C IEC 62047-18-2021 半導体デバイス ― 微小電気機械デバイス ― 第18回 薄膜材料の曲げ試験方法
• 2016 KS C IEC 62047-18-2016 半導体デバイス - 微小電気機械デバイス - 第 18 部: 薄膜材料の曲げ試験方法