CNS 5077-1988
半導体デバイス単体の環境検査方法及び耐久性検査方法 - 端子強度試験 (英語版)

規格番号

CNS 5077-1988

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1988

出版団体

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

最新版

CNS 5077-1988

範囲

この規格は、半導体デバイス単体の取り付け時や配線時、使用中に力が加わったときの端子部分の強度を評価するための試験方法を規定しています。

CNS 5077-1988 発売履歴

• 1988 CNS 5077-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法及び耐久性検査方法 - 端子強度試験