CNS 5073-1988
半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 衝撃試験 (英語版)

規格番号

CNS 5073-1988

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1988

出版団体

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

最新版

CNS 5073-1988

範囲

この規格は、電子機器用の単一の半導体デバイスが不注意な操作、輸送、使用により強い衝撃を受けたときの構造的および機械的耐性を評価することを目的とした試験方法を規定しています。

CNS 5073-1988 発売履歴

• 1988 CNS 5073-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 衝撃試験