CNS 5072-1988
半導体デバイス単体の環境検査方法及び耐久性検査方法 - 気密試験 (英語版)

規格番号

CNS 5072-1988

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1988

出版団体

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

最新版

CNS 5072-1988

範囲

この規格は、半導体デバイス単体の封止気密性の試験方法を規定しています。 1.1 定義 1.1.1 空気漏れ量の計算: 空気漏れ量の計算とは、25℃、高圧側が 1 気圧 (101325 Pa)、低圧側が 1 気圧のときの 1 秒あたりの乾燥空気の漏れ量を指します。 側面が1.33322×102Pa以下の空気流量。 単位はPaです。 cm3∕s を意味します。 1.1.2 空気漏れ量の測定：空気漏れ量測定システム

CNS 5072-1988 発売履歴

• 1988 CNS 5072-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法及び耐久性検査方法 - 気密試験