CNS 5071-1988
半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 - 温湿度サイクル試験 (英語版)

規格番号

CNS 5071-1988

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1988

出版団体

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

最新版

CNS 5071-1988

範囲

この規格は、加速法による高温高湿環境下における半導体デバイス単体の耐劣化性を評価することを目的とした試験方法を規定したものです。

CNS 5071-1988 発売履歴

• 1988 CNS 5071-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 - 温湿度サイクル試験