CNS 5539-1988
半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – ツェナーダイオード連続動作試験 (英語版)
- 規格番号
- CNS 5539-1988
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 1988
- 出版団体
- Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
- 最新版
- CNS 5539-1988
- 範囲
- この規格は、ツェナーダイオードが長期間耐えられる電気的ストレス（電圧、電流）および温度ストレス（負荷による温度上昇を含む）の程度を評価するための試験方法を規定しています。
CNS 5539-1988 発売履歴
- 1988 CNS 5539-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – ツェナーダイオード連続動作試験
