CNS 6125-1988
半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 整流ダイオードの高温通電試験 (英語版)
- 規格番号
- CNS 6125-1988
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 1988
- 出版団体
- Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
- 最新版
- CNS 6125-1988
- 範囲
- この規格は、整流ダイオードが耐えられる逆バイアス電圧の程度の試験方法を指定します。
CNS 6125-1988 発売履歴
- 1988 CNS 6125-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 – 整流ダイオードの高温通電試験
