CNS 6120-1988
半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 ~サイリスタの連続動作試験~ (英語版)
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CNS 6120-1988
規格番号
CNS 6120-1988
言語
中国語版,
英語で利用可能
制定年
1988
出版団体
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
最新版
CNS 6120-1988
範囲
この規格は、サイリスタが長期間にわたる継続的な電気的ストレスおよび温度ストレスに耐えるための試験方法を指定します。
CNS 6120-1988 発売履歴
1988
CNS 6120-1988
半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 ~サイリスタの連続動作試験~
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