CNS 6117-1988
半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 - 耐湿性試験 (英語版)

規格番号

CNS 6117-1988

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1988

出版団体

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

最新版

CNS 6117-1988

範囲

この規格は、単一の半導体デバイスを高相対湿度下で長期使用および保管するための試験方法を指定します。

CNS 6117-1988 発売履歴

• 1988 CNS 6117-1988 半導体デバイス単体の環境検査方法と耐久性検査方法 - 耐湿性試験